两分钟带您了解：光谱分析仪基体效应
随着时代的发展，分析仪的应用越来越广泛，今天就带大家来介绍一下分析仪的进基本效应。实际工作中被测量的样品，往往其成份是由多种元素组成，除待测元素以外的元素统称为基体。由于被测量的样品中，其基体成份是变化的(这个变化一是指元素的 变化，二是指含量的变化)，它直接影响待测元素特征X射线强度的测量。换句话说，待测元素含量相同，由于其基体成份不同，测量到的待测元素特征X射线强度 是不同的，这就是基体效应。光谱分析仪基体效应是X射线荧光定量分析的主要误差来源之一。光谱分析仪基体效应是个无法客观，其物理实质是激发(吸收)和散射造成特征X射线强度的变化，除待测元素外，基体成份中靠近待测元素的那些元素对激发源的 射线和待测元素特征X射线产生光电效应的几率比轻元素(在地质样品中一些常见的主要造岩元素)的几率大得多，也就是这些邻近元素对激发源发射的X射线和待 测元素的特征X射线的吸收系数比轻元素大得多;轻元素对激发源放出的射线和待测元素的特征X射线康普顿散射几率比重元素大得多。希望以上介绍能帮助到大家，若有其他问题可咨询网站客服。
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